LED作為一種典型的高可靠性電子產(chǎn)品,在室溫下的使用壽命可能長達(dá)數(shù)年,如果在常規(guī)條件下進(jìn)行試驗(yàn),周期過長,成本較高。而根據(jù)阿倫尼斯模型,隨著溫度升高,LED模組的壽命會隨之降低兇。所以可以通過提高環(huán)境溫度來達(dá)到加速LED模組失效的目的。
實(shí)驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
試驗(yàn)條件:選取125℃作為實(shí)驗(yàn)的環(huán)境溫度進(jìn)行恒定溫度的高溫老化試驗(yàn)。
試驗(yàn)流程:
將樣品放置在試驗(yàn)箱中進(jìn)行加電試驗(yàn),其照度信號通過光纖傳輸給照度計(jì),照度計(jì)將光信號轉(zhuǎn)換成電信號傳遞給采集設(shè)備,采集的數(shù)據(jù)在電腦中通過采樣軟件搜集。
為了獲得高溫條件下封裝材料對LED模組可靠性的影響,在125℃環(huán)境溫度下,使用高溫試驗(yàn)箱同時對四種不同的樣品進(jìn)行但定溫度的老化試驗(yàn)。
試驗(yàn)結(jié)果:在高溫試驗(yàn)條件下,沒有使用硅膠和熒光粉的 LED模組具有很高的可靠性;而硅膠的碳化以及隨之產(chǎn)生的氣體 、阻礙散熱的熒光粉都會使光照度加速衰減,同時使用硅膠及熒光粉會使光照度迅速衰減導(dǎo)致模組失效 。
如有試驗(yàn)疑問,可以咨詢“環(huán)儀儀器”技術(shù)人員。
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