目前線纜的主要電氣性能測試項目

序號 常用訊號傳輸名稱 簡稱 全稱對照表 1 回路損失 RL Return Loss 2 衰 減 IL(ATT) Insertion loss(Attenuation) 3 特性阻抗 Z0 Differential impedance 4 傳輸延遲 Delay Propagation Delay 5 延遲偏離 Skew Delay Skew 6 近端串?dāng)_ Next Next Nearend crosstalk 7 遠(yuǎn)端串?dāng)_ Fext Far end crosstalk 8 近端串?dāng)_衰減比 Acr Attenuation-to-Crosstalk Ratio 9 上升時間 Rise time Rise time 10 單端轉(zhuǎn)共模測試 SCD21 NA SCD21 Diff To Comm Convert 11 近端的連接器阻抗 TDR Connector IMPZ TDR Connector IMPZ 12 遠(yuǎn)端的連接器阻抗 TDR FE Connector IMPZ TDR FE Connector IMPZ 13 對內(nèi)延遲差異 TDR IntraPairSkew TDR IntraPairSkew 14 遠(yuǎn)端串音 TDT NEXT B TDT NEXT B

S11 表示在port 1 的反射損耗(return loss)，值越接近0 越好(越低越好，一般-25~-40dB)，表示傳輸路徑中反射(reflection)越小，也稱為輸入反射系數(shù)(Input Reflection Coefficient)，如S11為-25dB，則算出來的Vreflection約為輸入信號的6.3%，如S11為-10dB，則Vreflection約為輸入信號的30%.

S21 表示信號從port 1 傳遞到port 2 過程中的插入損耗(insertion loss)，值越接近1 越好(0dB)，表示傳遞過程損失(loss)越小，S21=-3dB意味著，約70%的輸入信號傳遞到了輸出端.

我們經(jīng)常用到的單根傳輸線，或一個過孔，就可以等效成一個二端口網(wǎng)絡(luò)，一端接輸入信號，另一端接輸出信號，如果以Port1作為信號的輸入端口， Port2作為信號的輸出端口，那么S11表示的就是回波損耗，即有多少能量被反射回源端（Port1），這個值越小越好，一般建議S11< 0.1，即－20dB；S21表示插入損耗，也就是有多少能量被傳輸?shù)侥康亩耍≒ort2）了，這個值越大越好，理想值是1，即0dB，S21越大傳輸?shù)男试礁撸话憬ㄗhS21>0.7，即－3dB。

S11和S21是最常使用的兩個參數(shù)，除此之外，還有S22和S12，定義如下：

S22是從port2看過去的return loss，跟S11意思一樣，只是換了端口，S12表示從Port2看過去的insertion loss，跟S21相等.

寫到這，似乎已經(jīng)差不多了，然而還有我們不常提及的S31，S41.

S31和S41表示的是，兩條傳輸線發(fā)生串?dāng)_時的反射系數(shù).

S31表示近端串?dāng)_（NEXT，near end cross talk），S41表示遠(yuǎn)端串?dāng)_（FEXT, far end cross talk）。

串音的產(chǎn)生原理

S31和S41之所以不常被提及，主要是因為通常單端信號之間，要求盡量減小串?dāng)_，在符合設(shè)計規(guī)范的板子上，S31和S41對于信號質(zhì)量影響不大，而對于差分信號，則又有差分信號的S參數(shù)來描述，把1,3兩個端口，看做是差分port1，把2,4兩個端口，看做是差分port2.

串音的產(chǎn)生原理

SDD，表示差分模式的輸入（Stimulus）和反饋（Response）之間的關(guān)系.

SCC，表示共模模式的輸入和反饋之間的關(guān)系.

SCD，表示差分訊號和共模輸出的反饋之間的關(guān)系.

SDC，表示共模訊號和差分輸出之間的響應(yīng)關(guān)系.

如上圖所示，SDD11的意思是，差分激勵在差分端口port1處的差分信號reflection loss。

SDC21的意思是，差分激勵在差分端口port1處看到的共模信號的inserssion loss.

傳統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀最多只能有4個端口，所以測試得到的S參數(shù)也只能是4端口的，也就是最多一次只能測試一對差分對（不過現(xiàn)在有多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀PXI可以解決多端口網(wǎng)絡(luò)的測試），對于高速電路仿真而言，如果需要考慮傳輸線之間的串?dāng)_，傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)分析儀測試得到的S參數(shù)就不能直接使用，但是可以通過工具進(jìn)一步的合成處理，這樣就能考慮到串?dāng)_的影響啦，但是在實際測量中，如果手頭的ENA網(wǎng)絡(luò)分析儀只有兩個物理端口，怎么測量差分對(4個物理端口)的S參數(shù)呢？

實際上可以通過測量這四個端口兩兩之間的S參數(shù)，然后計算得出，如：

目前線纜的主要電氣性能不良項目

以下項目是目前量測經(jīng)常遇到的不良項次

實際量測數(shù)據(jù)報告之 SCD21（共模輸出）-SDD21（差模輸出）

SCD21 NA SCD21 Diff To Comm Convert，單端轉(zhuǎn)共模測試(差模轉(zhuǎn)共模損耗）

SCD21為端口1至端口2的差模-共模轉(zhuǎn)換

SDD21 為端口1至端口2的差模傳輸

差模共模轉(zhuǎn)換，也就是說，在傳輸差模信號時，信號受到干擾，在接收端信號被誤判為共模信號；差模信號轉(zhuǎn)化為共模信號，就是指差模共模轉(zhuǎn)換了（理論上是越少越好）主要是描述測試對線間兩根訊號線的對稱性（或者叫平衡性，電磁耦合好壞的差異），和線對的衰減（ Insertion Loss ），延遲差（ Intrapair Skew)有關(guān).

雖然從量測最終結(jié)果的表現(xiàn)為PASS,但是實際對間差異過大，掃頻測試會對其他對數(shù)的其他參數(shù)產(chǎn)生影響，是一環(huán)套一環(huán)的存在，當(dāng)我們對著大山呼喊的時候，我們理解的回音就是一個存在的差模轉(zhuǎn)共模的損耗案例.

典型不良表現(xiàn)

Return Loss SDD22

Return Loss SDD22；RL是回波損耗的簡稱，是數(shù)字電纜產(chǎn)品的一項重要指標(biāo)，電纜鏈路由于阻抗不匹配所產(chǎn)生的反射，是一對線自身的反射。不匹配主要發(fā)生在連接器的地方，但也可能發(fā)生于電纜中特性阻抗發(fā)生變化的地方，所以施工的質(zhì)量是減少回波損耗的關(guān)鍵?；夭〒p耗將引入信號的波動，返回的信號將被雙工的千兆網(wǎng)誤認(rèn)為是收到的信號而產(chǎn)生混亂.

典型不良表現(xiàn)

影響SDD22回波損耗的制程因素﹕

導(dǎo)體均勻性﹑絕緣均勻性﹑發(fā)泡度均勻性﹑結(jié)構(gòu)尺寸均勻性。

1) 導(dǎo)體直徑不均勻﹑導(dǎo)體有彎﹑導(dǎo)體不圓﹔

2) 絕緣芯線偏心﹑橢圓﹑線徑不均勻﹔

3) 發(fā)泡度不均勻﹔

4) 編織與外被的松緊也可引起回波的產(chǎn)生﹔工藝改善: 芯線制做均勻,導(dǎo)體圓整度,絕緣偏心度,收放線張力穩(wěn)定.

Insertion Losss

Insertion Losss；高頻電子訊號在傳動時由于基本材料電阻，產(chǎn)生訊號強度(電壓)降低以外，尚有因高頻引發(fā)的Impedance，導(dǎo)致電子訊號強度再被降低,基本電阻的衰減取決于導(dǎo)體材質(zhì)可稱直流衰減,電容電感的衰減取決于頻率高低可稱交流衰減，且頻率越高此衰減越嚴(yán)重.

典型不良表現(xiàn)

趨膚效應(yīng)和介電損耗是造成電纜高頻損耗的主要原因

趨膚效應(yīng)損耗(單位為dB)與電纜長度及頻率的平方根成正比；

介電損耗(單位為dB)與電纜長度及頻率成正比。

趨膚效應(yīng)損耗主要來自于中、低頻，

介電損耗主要來自于高頻。

高頻電流流過導(dǎo)體時，電流會趨向于導(dǎo)體表面分布，越接近導(dǎo)體表面電流密度越大。這種現(xiàn)象就是趨膚效應(yīng)。頻率越高，電流就越集中在導(dǎo)體表面，可以想象，當(dāng)頻率足夠高時，電流幾乎只分布在導(dǎo)體表面上薄薄的一層，導(dǎo)體內(nèi)部幾乎沒有電流

影響Insertion Losss的制程因素﹕

電線主要分為兩種，一種為同軸系列，一種為對絞系列

對屏蔽厚度﹕ 鋁箔厚度增加—衰減減小﹔ 鋁箔厚,繞包時不容易繞緊﹐可導(dǎo)致高頻衰減跳動。

成纜節(jié)距: 成纜節(jié)距增大—衰減減小﹔

總屏蔽: 屏蔽厚度及密度增加—衰減減小﹔

對內(nèi)延時差大—衰減偏大。

設(shè)計改善:衰減偏大,加大導(dǎo)體線徑,加大絕緣線徑,加大發(fā)泡度,更改絕緣材料.(降低介質(zhì)損耗角正切)

工藝改善:芯線押出時盡量圓整,發(fā)泡度均勻,水中電容調(diào)小

材料衰減：有電壓的情況下,分子會產(chǎn)生擺動,擺動會產(chǎn)生熱 量,即而把部分能量轉(zhuǎn)化為熱能.

導(dǎo)體衰減：導(dǎo)體會發(fā)熱,消耗的為熱能

反射衰減：遇到材料不均勻點

生產(chǎn)制造對參數(shù)的影響

導(dǎo)體工序

芯線工序

對絞包帶/包帶工序

總絞工序

2025江蘇鹽城東臺-800G高速銅纜供應(yīng)鏈行業(yè)技術(shù)研討會預(yù)告

2025年9月5日，江蘇鹽城東臺——數(shù)據(jù)中心算力需求爆發(fā)式增長，800G/1.6T時代已呼嘯而至！作為下一代數(shù)據(jù)中心的核心物理連接方案，高速銅纜技術(shù)正迎來關(guān)鍵突破期。在此背景下，2025高速銅纜800G/1.6T高速銅纜供應(yīng)鏈大會將于9月5日在江蘇鹽城東臺隆重召開。大會聚焦800G/1.6T高速銅纜技術(shù)演進(jìn)與產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同，匯聚全球頂尖企業(yè)領(lǐng)袖與技術(shù)專家，共探技術(shù)瓶頸、共享創(chuàng)新成果、共建高效生態(tài)，為800G/1.6T規(guī)模化部署按下加速鍵！

高速互連技術(shù)正面臨單通道224Gbps向448Gbps演進(jìn)的關(guān)鍵節(jié)點。為應(yīng)對信號完整性、功率損耗及供應(yīng)鏈重組等核心挑戰(zhàn)，高速銅纜產(chǎn)業(yè)鏈亟需在材料、精密制造工藝及測試驗證體系等維度實現(xiàn)技術(shù)突破。本次9-5日與江蘇鹽城東臺舉辦的高頻高速時代之800G/1.6T產(chǎn)業(yè)鏈推進(jìn)技術(shù)研討峰會得到供應(yīng)鏈頭部企業(yè)的全力支持，我們再次誠邀行業(yè)同仁開展建設(shè)性對話，以技術(shù)創(chuàng)新為驅(qū)動，以產(chǎn)業(yè)升級為目標(biāo)，攜手構(gòu)建高速互連領(lǐng)域的技術(shù)生態(tài)體系。就高速互聯(lián)發(fā)展進(jìn)程中的技術(shù)瓶頸突破與產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同創(chuàng)新展開更多的深度探討。再次誠邀您報名出席為行業(yè)發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量；歡迎掃下圖二維碼報名參會.

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本次會議將采用：東臺本地高速銅纜供應(yīng)鏈企業(yè)參觀+現(xiàn)場展臺觀展+線纜技術(shù)交流+行業(yè)圓桌會議+交流晚宴幾部分組成，會場按照800人+規(guī)模布置，報滿即止.更多會議細(xì)節(jié)了解可以電話：150-1533-1777，魯總.

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